第五代XFlash
® 硅漂移探测器
_ 第五代SDD 芯片技术，活性面积20mm2, 活性深度450 微米。
_ 专为SDD 设计和优化的MCA 信号处理器，信号处理速度更快，。
_ 能量分辨率，分辨率优于139eV@ MnKa 100Kcps，。
_ 无以匹敌的超高计数率， 计数率高达
250Kcps 时分辨率也不下降，线性范围高
达500Kcps，测量结果更准。
_ 帕尔帖制冷技术，不需要液氮，没有任何消耗。
_ 的DuraBeryllium? 技术探测器窗膜，
坚固、无泄露、耐压。
_ 完全免维护，后期无消耗。
XFlash
SDD
硅漂移探测器，卓越的能量分辨率，使相邻的谱峰可以得到更好的分离；灵敏度高，计数率高，从而降低了测量的统计误差，提高了测试精密度；线性范围宽，可以测量高计数率的样品，测量速度更快。
2、的轻元素强化型第五代XFlash
LE 硅漂移探测器（选项）：
第五代SDD 芯片技术，活性面积20mm2，探测器窗膜采用有涂层的有机膜，透光率高。分辨率
优于145eV@ MnKa 100Kcps，输入计数率高达250Kcps 时分辨率不下降，线性范围达到500Kcps。
与标准的SDD 探测器相比，Na 元素的灵敏度提高8 倍，Mg 元素的灵敏度提高4 倍，元素分析
范围6C-92U。
3、X 射线光管：Pd 阳极，功率50W，激发电压50KV，激发电流2mA。轻元素强化型X 射线
光管：Ag 阳极，功率50W，激发电压50KV，激发电流2mA。
4、触屏控制TM 及灵活的样品处理
触屏控制TM 操作，简单易学，不需要特殊的技术培训和专门技术从天就可以得到精密的
测量结果。灵活的样品处理—有1 位进样器和28 位自动进样器。1 位进样器适合单个样品送来之后立刻
分析，每天样品不多的用户，28 位自动进样器适合大量的成批样品的分析。
5、获得测量结果仅需3 步：选择分析曲线、输入样品编号、开始测量，就像使用自动取款机一样简单
_ 直观的触摸屏操作
_ 操作者投入*小
_ 快速定义测量工作并开始测量
_ 不需要特殊的技术培训和专门技术从天就可以得到精密的测量结果
6、分析结果查询简单查找以前的结果:
_ 按时间段查找
_ 按样品名查找
_ 显示浓度
显示谱图:
_ 选择和放大
_ 寻峰
_ 元素谱线显示
_ 谱图打印
可以全面监测系统的运行状态，您可以将整个状态存盘，email给维修人员，从而可有效降低维修费用，缩短维修时间。
8、远程诊断软件功能：
具有远程诊断功能，通过电话线及调制解调器，维修工程师可以通过自己的计算机与您的系统直接相连，
检测、控制您的系统，诊断故障，提出解决问题的建议，从而大大降低维修费用、提高维修效率、缩短反应时间。很容易集成到任何网络中，在其他计算机系统和其他软件包中使用分析结果。
9、EQUA ALL 无标样定量分析独特的软件方案
EQUA ALL 无标样定量分析软件可对所有元素、所有材料、所有浓度范围、所有制样方法在5 分钟之内得出高准确度的无标样定量分析结果。EQUA ALL
采用独特的直接全谱拟合的方法计算浓度，将测量的谱峰与样品的组成直接相关联起来，不需要求解“净强度”的中间步骤。这个方法是基于需要*少的经验参数并经过仔细定义的物理模型，一个元素对所有谱线的贡献均由一个自由参数－浓度—来计算，所有的谱线重叠不需要附加的经验参数而自动包括在内。
一个元素的所有谱线均用它的浓度进行拟合。
10、SPECTRAEDX 定量分析独特的软件方案
SPECTRA
定量分析软件具有清晰的软件结构、等级密码保护功能、分析曲线的自动导航、完善的评估工具、现代感的软件设计等特点。软件功能容易掌握，易于使用，不需要特殊的技术培训和专门技术从天就可以得到精密的定量测量结果。
11、专业的软件解决方案
ML PLUS
多层膜分析软件：采用的完全基本参数法，具有吸收法和发射法两种分析模式；薄层分析采用发射法，厚层分析采用吸收法（准确度更高）。在建立薄膜样品模型的基础上可对镀膜样品进行无标样分析。同样适用于有标样的定量分析，结果的准确度和精度更高。分析多达15密
层（每层16 个元素）的镀膜样品，测定每层膜的厚度和元素含量。如食品包装纸上Al、Ti、Zn 的
涂层，铁基上SnPb、ZnNi 的涂层，铜基上Au/Ni、Cr/Ni 双层涂层，铁基上Cr/Ni/Cu 三层涂层等测定。
_ PETRO-QUANT 软件，预定义的EN、ISO、ASTM、DIN
分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案，仪器安装后可以按照标准方法立刻进行常规分析。
_ CEMENT-QUANT 软件，采用标样建立的水泥工业完整的解决方案，可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中12 个元素快速、简单、精密的定量分析。
_ RoHS-QUANT 软件：针对RoHS/WEEE 开发的分析方法和软件；提供定量筛选有害物质的现成方法；准确、快速、简单地依据标准判断。
12、高精度、高准确度的定量分析数据：
长石样品中主量元素、次量元素的分析精密度测量次数
更新时间：2023/11/17 9:14:48
标签：色散X射线荧光光谱仪 布鲁克X射线光谱仪 进口光谱仪
